Descriptif
Les ondes, sonores et électromagnétiques, nous permettent de percevoir le monde extérieur, par les interactions, appelées diffractions qu’elles ont avec les objets. Ces phénomènes de diffraction sont omniprésents : vision, imagerie radar, acoustique des salles de concert, réduction du bruit urbain, etc., et souvent globalement en régime haute fréquence : la longueur d’onde est petite devant la taille de l’objet. Néanmoins certains détails, de dimension petite devant la longueur d’onde, peuvent avoir des effets diffractifs non négligeables. Pour simuler numériquement les phénomènes de diffraction, les méthodes intégrales [1] et asymptotiques haute fréquence [2] sont naturellement complémentaires. Les premières permettent de calculer le champ diffracté par des objets de forme très générale, mais de taille raisonnable en termes de longueur d’onde. Les secondes, fondées sur des développements asymptotiques, sont d’autant plus précises que la fréquence est élevée et permettent d’élucider la structure du champ diffracté en termes physiques. L’idée naturelle consiste à associer les deux types de méthodes pour profiter de leurs avantages respectifs. Le cours présente les fondements mathématiques des méthodes haute fréquence et comment les mettre en œuvre, en les hybridant avec des méthodes d'équations intégrales [3], pour calculer le champ diffracté par des objets en même temps très grands en terme de longueur d'onde, mais comportant des détails géométriques fins et de forme complexe
Diplôme(s) concerné(s)
- Diplôme d'Ingénieur de l'Ecole Nationale Supérieure de Techniques Avancées
- M2 AMS - Analyse, Modélisation, SImulation
Parcours de rattachement
Pour les étudiants du diplôme Diplôme d'Ingénieur de l'Ecole Nationale Supérieure de Techniques Avancées
Connaissances élémentaires de l'équation des ondes, résolution des problèmes de diffraction par équations intégrales
Pour les étudiants du diplôme M2 AMS - Analyse, Modélisation, SImulation
Connaissances élémentaires de l'équation des ondes, résolution des problèmes de diffraction par équations intégrales
Format des notes
Numérique sur 20Littérale/grade européenPour les étudiants du diplôme Diplôme d'Ingénieur de l'Ecole Nationale Supérieure de Techniques Avancées
Vos modalités d'acquisition :
Notation : rendu d'exercice et de TP numériques (séances 3 et 5)
Le rattrapage est autorisé (Max entre les deux notes écrêté à une note seuil)- le rattrapage est obligatoire si :
- Note initiale < 6
- le rattrapage peut être demandé par l'étudiant si :
- Note initiale < 10
- Crédits ECTS acquis : 2 ECTS
Le coefficient de l'UE est : 2
Pour les étudiants du diplôme M2 AMS - Analyse, Modélisation, SImulation
Vos modalités d'acquisition :
Notation : rendu d'exercice et de TP numériques (séances 3 et 5)
Le rattrapage est autorisé (Max entre les deux notes)- le rattrapage est obligatoire si :
- Note initiale < 7
- Crédits ECTS acquis : 3 ECTS
Le coefficient de l'UE est : 1
La note obtenue rentre dans le calcul de votre GPA.
Programme détaillé
Séance 1 : Optique géométrique (GTD)
séance 2 : Optique physique (PTD)
séance 3 : Méthode hybride HF/BF
séance 4 : Transition ombre/lumière (UTD)
séance 5 : Calcul de la fonction de Fock et des rampants
séance 6 : Diffraction par un coin (dièdre, cône)